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产品名称:SHK-B204步入式高温老化房


步入式高温老化房高温老化试验房,是针对高性能电子产品(如:计算机整机,显示器,终端机,车用电子产品,电源供应器,主机板、监视器、交换式充电器,各种工业设备等)仿真出一种高温环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备,各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于工业设备、

产品描述参数
SHK-B204步入式高温老化房

步入式高温老化房

高温老化试验房,是针对高性能电子产品(如:计算机整机,显示器,终端机,车用电子产品,电源供应器,主机板、监视器、交换式充电器,各种工业设备等)仿真出一种高温环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备,各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于工业设备、电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

本老化试验房采用组合拼装式库板结构,模块化设计,根据不同的要求配置壳体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、进排风系统、时间控制系统等,通过此测试程序可检查出不良品或

高温老化试验房,是针对高性能电子产品(如:计算机整机,显示器,终端机,车用电子产品,电源供应器,主机板、监视器、交换式充电器,各种工业设备等)仿真出一种高温环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备,各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于工业设备、电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

1. GB2423.2-2001   试验B:高温试验方法。

2.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)  高温寿命试验。

 内箱尺寸: 2000×3000×2000(W×D×H)mm (可定制)

 内箱容积: 12m3

 温度范围: RT+10℃~+80℃

 冷却方式: 风冷自然对流

 结构方式: 试验室体采用组合拼装式库板结构,模块化设计

 温度偏差: ≤±2℃(空载时)

 升温速率: ≥2℃/min

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